Le parc des diffractomètres :
Les quatre cercles prototypes uniques en France sont implantés sur anode tournante 12 kw, source Co à foyer linéaire, 0.5*10 mm² :
1 Diffractomètre à très haute résolution à faisceau parallèle. Les analyses réalisées concernent principalement l’évaluation de l’énergie stockée dans les matériaux métalliques polycristallins , les analyses sous incidence rasante dans les matériaux couches minces.
Caractéristiques principales :
- Monochromateur Bartels motorisé, Ge 220 ou 440, 2 ou 4 réflexions
- Platines de positionnement des échantillons 3 axes motorisées (course 5mm, pas mini : 40 nm)
- Ensemble de détection : détecteur linéaire (? 2 ? = 8.4*10-4°) ou ponctuel avec monochromateur arrière (? 2 ? = 5.0*10-3°)
2 Diffractomètre à faisceau convergent. Affinement de structures par analyse Rietveld de spectres, détermination de contraintes résiduelles macroscopiques, textures cristallographiques.
Caractéristiques principales :
- Monochromateur Si O2 courbe 10.1, focalisation arrière ;
- Fentes de Soller limitant la divergence verticale du faisceau à 0.5° ;
- Platines de positionnement des échantillons : 3 axes motorisés. Course 5mm, pas mini : 40 nm ;
- Ensemble de détection : détecteur linéaire courbe motorisé, (ouverture 120°, ? 2 ? = 1.5*10-2°) ou ponctuel (? 2 ? = 1.0*10-2°).
3 Diffractomètre dédié à l’analyse des textures cristallographiques sur matériaux métalliques, source Co à foyer ponctuel, échelle de détection avec discrimination en énergie.
Caractéristiques principales :
- Monochromateur graphite 00.2
- Ensemble de détection : scintillateur, discrimination en énergie ;
- Différents logiciels de détermination de la fonction de distribution des orientations (FDO).
- Collimateurs dont le diamètre est ajustable en fonction de la taille des grains du matériau analysé
4 Diffractomètre (Equinox 5000, INEL) dédié à l’affinement de structures par analyse Rietveld de spectres, à l’analyse des textures cristallographiques sur matériaux métalliques, aux mesures sous incidence rasante, source Cu.
Caractéristiques principales :
- Détecteur linéaire courbe 90° (? 2 ? ˜ 0.012°), motorisé
- Différents logiciels de détermination de la fonction de distribution des orientations (FDO)
- Deux configurations possibles : faisceau linéaire à foyer fin ou ponctuel monochromatique (Ge 111 ou graphite 00.2)
5- Diffractomètre à très haute résolution. Les analyses réalisées concernent principalement l’évaluation de l’énergie stockée pour des échantillons à gros grains ou des monocristaux, dispositif de Guinier, montage achromatique.
Caractéristiques principales :
- Monochromateur Ge 440 sous vide primaire
- Platine 3 axes de positionnement des échantillons
- Ensemble de détection : détecteur linéaire (? 2 ? = 8.4*10-4°)
- Trajet du faisceau diffracté sous vide primaire
Les diffractomètres trois cercles :
Trois appareillages (INEL) dédiés à l’affinement de structures par analyse Rietveld de spectres.
Leurs caractéristiques principales sont :
- Foyer linéaire fin, monochromatique, de type Co, Cu
- Détecteurs linéaires courbes (110°/120°, ?2 ? ˜ 0.015°)
- Diagramme de poudre de monocristaux : (caméra de Gandolfi)
- Mesures en température (T max = 1200° c) sous atmosphère contrôlée (four Anton Paar)
1 Ensemble nomade (XSOLO, INEL) de détermination des contraintes résiduelles macroscopiques, source Cu 4w :
L’originalité de ce système réside dans l’aspect transportable du dispositif, la mesure faite sans contact avec la pièce et le traitement des données basée sur une analyse Rietveld.
Caractéristiques principales :
- Source Cu 4W ;
- Détecteur CCD 2D refroidi par effet Peltier ;
- Détection 90°<2θ<170°
- Capteur angulaire /ω
- Distance de travail : 22 mm
2 Dispositif d’orientation de monocristaux, Laue en retour :
- Caractéristiques principales :
- Source ponctuelle W
- Orientations de la symétrie cristalline
- Analyse d’échantillons de toutes dimensions et de toutes géométries